X-Ray Diffraction part 5

HASIL DAN PEMBACAAN XRD

Pada bagian sebelumnya telah diungkapkan bahwa d adalah jarak antara 2 bidang kisi. Ada 7 sistem kristal sebagaimana ditunjukkan pada gambar 1 di bawah ini.

Sumber:  http://www.medal-project.eu/18-xrdxrf_ch.pdf

Gambar 1

7 sistem kristal dan 14 kisi Bravais

14 Kisi Bravais merupakan pola dasar untuk memahami struktur kristal.

            Hasil pendeteksian interferensi gelombang pantul dinyatakan pada grafik I dan 2q, seperti ditunjukkan pada gambar 2 berikut ini.

http://rruff.geo.arizona.edu/doclib/cm/vol43/CM43_1255.pdf

 

Gambar 2

Powder XRD patterns from the two-phase samples M236–116 and M236–081

recorded using K_α1 + K_α2 radiations (a and c) and those

in which the contribution of K_α2 radiation is subtracted (b and d).

            Pola difraksi memuat plot intensitas pemantulan pada sumbu tegak dan sudut 2q atau q yang tergantung pada konfigurasi goniometri. Gambar 2 menunjukkan puncak-puncak interferensi maksimum. Nilai 2q untuk puncak tertentu tergantung pada panjang gelombang material anoda tabung X-ray. Nilai 3 angka di atas puncak menunjuk nilai yang bersesuaian dengan h, k, l bidang-bidang kisi pada 1 unit sel. Dari sini, kita bisa memperoleh nilai d dengan menggunakan hukum Bragg,            

                                               

Melalui informasi 3 angka yang tertera pada puncak grafik intensitas dan nilai d, maka kita dapat menghitung dimensi 1 unit sel. Pola difraksi sinar X ini bersifat khas yang membedakan substansi yang satu dengan yang lain. Pola difraksi sinar X pada setiap material mirip dengan sidik jari substansi atau material.

            Saat ini telah didata sekitar 50000 komponen bahan anorganik dan 25000 komponen bahan organik tunggal, fase-fase kristalin, pola difraksi tersebut dikumpulkan dan disimpan dalam cakram magnetik atau media optik sebagai standar. Metode difraksi ideal sebagai karakteristik dan identifikasi fase polycrystalline.

            Selain bermanfaat untuk mengenali komposisi zat padat dan mengenal struktur kristal, XRD juga diaplikasikan dalam bidang seni dan arkeologi. XRD secara luas digunakan untuk menentukan pigmen alam, meneliti cacat produk, perubahan produk pada material bahan bangunan dan benda-benda logam, serta karakteristik batu mulia dan mineral yang terkandung dalam batu-batuan bernilai seni.